Код профессионального стандарта:
40.003
Дата введения:
2014-04-18
Область профессиональной деятельности:
Сквозные виды профессиональной деятельности в промышленности
Вид профессиональной деятельности:
Производство интегральных схем, микросборок и микромодулей
УТВЕРЖДЕН
приказом Министерства
труда и социальной защиты Российской Федерации
от «03»февраля 2014г. №70н
ПРОФЕССИОНАЛЬНЫЙ
СТАНДАРТ
Инженер-конструктор в области производства наногетероструктурных
СВЧ-монолитных интегральных схем
21 |
Регистрационный номер |
I. Общие сведения
Производство интегральных схем, микросборок и микромодулей | 40.003 | ||||||
(наименование вида профессиональной деятельности) | Код | ||||||
Основная цель вида профессиональной деятельности: | |||||||
Производство наногетероструктурных сверхвысокочастотных (СВЧ) монолитных интегральных схем (МИС СВЧ) с использованием нанотехнологий | |||||||
Группа занятий: | |||||||
2111 | Физики и астрономы | 2113 | Химики | ||||
(код ОКЗ) | (наименование) | (код ОКЗ) | (наименование) | ||||
Отнесение к видам экономической деятельности: | |||||||
32.10.6 | Производство интегральных схем, микросборок и микромодулей | ||||||
(код ОКВЭД) | (наименование вида экономической деятельности) |
II. Описание трудовых функций, входящих в профессиональный стандарт(функциональная карта вида профессиональной деятельности) |
Обобщенные трудовые функции | Трудовые функции | ||||
код | наименование | уровень квалификации | наименование | код | уровень (подуровень) квалификации |
А | Подготовка конструкторской документации для запуска в производство и разработка методик испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральных схем (МИС СВЧ) | 6 | Разработка топологии тестовых структур и топологии МИС СВЧ, разработка файлов для электронной литографиии изготовления фотошаблонов | А/01.6 | 6 |
Подготовка конструкторской документации для запуска МИС СВЧ в производство | А/02.6 | ||||
Разработка методики испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных МИС СВЧ | А/03.6 | ||||
В | Выполнение опытно-конструкторских работ полного цикла по созданию наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральным схем (МИС СВЧ), руководство их конструированием и испытанием | 7 | Конструирование наногетероструктурных СВЧ- монолитных интегральных схем в соответствии с техническим заданием для выбираемой технологии | В/01.7 | 7 |
Подготовка конструкторской документации для запуска МИС СВЧ в производство | В/02.7 | ||||
Разработка методики испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных МИС СВЧ | В/03.7 | ||||
Руководство опытно-конструкторской работой (ОКР) | В/04.7 |
III.Характеристика обобщенных трудовых функций | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.1. Обобщенная трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Подготовка конструкторской документации для запуска в производство и разработка методик испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных СВЧ-монолитных интегральных схем (МИС СВЧ) | Код | А | Уровень квалификации | 6 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение обобщенной трудовой функции | Оригинал | X | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Возможные наименования должностей | Инженер-конструктор | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Требования к образованию и обучению | Высшее образование – бакалавриат | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Требования к опыту практической работы | Не менее одного года в должности инженера-конструктора | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Особые условия допуска к работе | Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;инструктаж по безопасному ведению работ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Дополнительные характеристики | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование документа | Код | Наименование базовой группы, должности (профессии) или специальности | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ОКЗ | 2111 | Физики и астрономы | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
2113 | Химики | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ЕКС | - | Инженер-конструктор | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ОКСО | 21010 | Электроника и микроэлектроника | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.1.1. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Разработка топологии тестовых структур и топологии МИС СВЧ, разработка файлов для электронной литографии и изготовления фотошаблонов | Код | А/01.6 | Уровень (подуровень) квалификации | 6 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Разработка топологии тестовых структур для характеризации параметров элементов монолитных интегральных схем (МИС) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка топологии МИС СВЧ, согласование их с технологами, внесение необходимых изменений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка и подготовка файлов для электронной литографии с предъявлением их для технического контроля, внесение необходимых изменений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка и подготовка файлов для изготовления фотошаблонов с предъявлением их для технического контроля, внесение необходимых изменений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Применять метод декомпозиции при анализе тестовых структур и МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Оценивать допуски на элементы при межоперационном контроле параметров | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Переходить от схемы принципиальной электрической к топологии МИС СВЧ, используя систему автоматизации проектирования (САПР) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Планировать и оптимизировать контрольные операции в процессе прохождения пластин по технологическому маршруту | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Осуществлять разработку топологии тестовых структур на пластине для проведения межоперационного контроля совместно с технологами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Выбирать методики измерения параметров тестовых структур при межоперационном контроле технологического процесса | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Выбирать оборудование для межоперационного контроля | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Анализировать статистическими методами результаты измерения параметров тестовых структур и делать заключение об их нахождении в пределах заданных допусков, приемлемых для достижения технических требований на МИС | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Рассчитывать параметры МИС с учетом особенностей топологии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать техническое задание на изменение технологии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Взаимодействовать с технологическими подразделениями при передаче топологии в производство | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Подготавливать файлы необходимых форматов для электронных шаблонов проекционной литографии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Работать на установке изготовления фотошаблонов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимыезнания | Основы технологии производства МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы статистического анализа | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы статистической обработки данных и теории чувствительности устройств к разбросам параметров компонент | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория и методы планирования эксперимента | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методики межоперационного контроля | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Параметры гетероструктур и материалов, применяемых в технологии МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория допусков применительно к наноэлектронике СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы разработки библиотек моделей пассивных и активных элементов МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Современные системы проектирования топологии СВЧ-устройств и МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Топологические библиотеки моделей пассивных и активных элементов МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Оборудование для измерения и контроля параметров тестовых структур и МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методология системы менеджмента качества | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы технологии электронной литографии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методики и нормативная документация на подготовку конструкторской документации (КД) для электронной литографии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы технологии изготовления фотошаблонов для проекционной литографии | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методики и нормативная документация на подготовку КД для изготовления фотошаблонов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Деятельность, направленная на создание топологий МИС СВЧ, являющихся интеллектуальным продуктом, защищаемым авторами как «Топология ИС» | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.1.2. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Подготовка конструкторской документации для запуска МИС СВЧ в производство | Код | А/02.6 | Уровень (подуровень) квалификации | 6 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Разработка методик измерений параметров тестовых структур и МИС СВЧ на пластине в соответствии с требованиями технического задания | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проведение измерений тестовых структур и МИС СВЧ, анализ данных измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Разрабатывать нормативную документацию на методики измерений тестовых структур и СВЧ МИС | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить измерение параметров на постоянном токе, в импульсном режиме и на СВЧ на современном оборудовании | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Формировать базы данных измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить статистическую обработку данных | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить метрологическую экспертизу измерений параметров | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять акты и протоколы о проведении измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Готовить и согласовывать проекты технических условий | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимыезнания | Способы и методы измерений параметров тестовых структур и МИС СВЧ на пластине в соответствии с требованиями пунктов технического задания | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Статистический анализ результатов проведения измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Метрологическое обеспечение измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативная документация на разработку технических условий | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Деятельность, направленная на обеспечение производства методиками и средствами измерения параметров элементов и МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.1.3. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Разработка методики испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных МИС СВЧ | Код | А/03.6 | Уровень (подуровень) квалификации | 6 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номерпрофессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Разработка методик испытания параметров МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка методик и критериев контроля и отбраковки МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Проводить и контролировать процедуры приемо-сдаточных испытаний | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Согласовывать технические условия | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять протоколы приемо-сдаточных испытаний | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Измерять вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики, частотные и динамические характеристики, устанавливать критерии их контроля | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые знания | Методы проведения испытаний на электрические и эксплуатационные параметры | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы контроля параметров по постоянному току | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы контроля параметров на СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Автоматизация зондовых измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Метрологическое обеспечение испытаний | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Деятельность, направленная на обеспечение надежности СВЧ МИС | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.2. Обобщенная трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Выполнение опытно-конструкторских работ полного цикла по созданию наногетеро-структурных СВЧ - монолитных интегральным схем (МИС СВЧ), руководство их конструированием и испытанием | Код | В | Уровень квалификации | 7 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение обобщенной трудовой функции | Оригинал | X | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Возможные наименования должностей | Ведущий инженер-конструктор | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Требования к образованию и обучению | Высшее образование – специалитет, магистратура | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Требования к опыту практической работы | Не менее одного года в должности инженера-конструктора | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Особые условия допуска к работе | Прохождение обязательных предварительных (при поступлении на работу) и периодических медицинских осмотров (обследований) в установленном законодательством порядке;инструктаж по безопасному ведению работ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Дополнительные характеристики | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование документа | Код | Наименование базовой группы, должности (профессии) или специальности | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ОКЗ | 2111 | Физики и астрономы | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
2113 | Химики | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ЕКС | Инженер-конструктор | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ОКСО | 210100 | Электроника и микроэлектроника | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.2.1. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Конструирование наногетероструктурных СВЧ- монолитных интегральных схем в соответствии с техническим заданием для выбираемой технологии | Код | В/01.7 | Уровень (подуровень) квалификации | 7 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Разработка структурных схем и схем принципиальных МИС СВЧ, оптимизация их параметров с учетом существующих технологических маршрутов производства и технологических ограничений | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка моделей элементов МИС СВЧ. Моделирование характеристик наногетероструктурных МИС СВЧ. Выбор программного обеспечения для построения моделей элементов и конструирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Выбор и обоснование типа гетероструктур и активных элементов (транзисторов, диодов), необходимых для достижения заданных основных электрических и эксплуатационных параметров МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Проводить анализ технической литературы на русском и английском языках | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать конструкторскую документацию на стадии технического предложения | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять согласно стандартам технические задания на конструирование МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить оптимизацию структурных и принципиальных схем МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять планы проведения экспериментальных работ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять математические модели анализируемых элементов МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Рассчитывать параметры на основе математических моделей | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Использовать результаты моделирования в проектировании МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Встраивать модели элементов в системы автоматизации проектирования | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Верифицировать созданные модели на основе численных и натурных экспериментов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Анализировать результаты измерений и методы электромагнитного и схемотехнического моделирования для разработки математических моделей элементов МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать недостающие в библиотеках модели элементов МИС СВЧ на основе анализа и экспериментальных измерений тестовых пассивных и активных элементов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Выбирать программное обеспечение для построения моделей элементов и конструирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать специальное программное обеспечение для построения моделей элементов и конструирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать модели МИС СВЧ, учитывающие параметры гетероструктурных подложек, применяемых пассивных и активных элементов с помощью систем моделирования и автоматизированного проектирования, включая системы технологического проектирования (TCAD) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Оценивать технические и экономические риски при выборе направления конструирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Оценивать временные затраты на стандартные и нестандартные подходы при конструировании МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять отчет по результатам моделирования и экспериментальных измерений, включающий описание полученных моделей | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые знания | Технический английский язык | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы физики гетеро-эпитаксиальных структур, гетероструктурных приборов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Параметры полупроводниковых материалов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Современные системы моделирования и проектирования СВЧ устройств и МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы технологии МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы сквозного проектирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Физические основы применения полупроводниковых соединений типа AIIIBV и гетероструктур на их основе, применяемых в полупроводниковой СВЧ наноэлектронике | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы структурного синтеза с ограничениями и особенностями реализации на СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы схемотехнического анализа и синтеза МИС СВЧ с учетом электродинамических характеристик моделей элементов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Схемотехника пассивных и активных устройств СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы метрологии и методы измерения параметров СВЧ устройств | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Зондовые измерения | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Библиотеки моделей пассивных и активных элементов МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Системы технологического моделирования (TCAD) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Статистический анализ результатов измерений параметров МИС СВЧ и их элементов | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Современное контрольно-измерительное оборудование | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Процедуры разработки и согласования технического задания | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Ответственность за достоверность результатов моделирования и схемотехнических расчетов для достижения параметров МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Деятельность, направленная на решение нетиповых задач конструкторско-технологического характера | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.2.2.Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Подготовка конструкторской документации для запуска МИС СВЧ в производство | Код | В/02.7 | Уровень (подуровень) квалификации | 7 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Подготовка комплекта конструкторской документации для производства МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Планирование и организация прохождения пластин по технологическому маршруту совместно с инженерами-технологами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка плана коррекции схемотехнических решений, топологии и технологического маршрута при несоответствии параметров техническому заданию | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Проводить анализ конструкторской документации с учетом технологических требований | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить и организовывать контроль параметров в процессе производства МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Использовать экспериментальные данные о материалах и параметрах технологического процесса при анализе отклонений от технических требований | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Вырабатывать корректирующие действия в соответствии с системой менеджмента качества (СМК) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые знания | Методы сквозного проектирования МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Стандарты на КД, нормативная документация отрасли, организации на технологические процессы | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Основы технологии МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методики проведения измерения и контроля параметров в процессе производства | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Метрологическое обеспечение контроля параметров | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Технология автоматизации процессов контроля | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Статистический анализ результатов измерений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Системы схемотехнического и технологического моделирования МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Свойства и параметры материалов гетероструктурной электроники | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория и практика управления технологическими процессами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Стандарты системы менеджмента качества | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Ответственность за взаимодействие конструкторских и технологических подразделений для достижения соответствия параметров МИС СВЧ требованиям технического задания | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.2.3. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Разработка методики испытаний, контроля и отбраковки наногетероструктурных МИС СВЧ | Код | В/03.7 | Уровень (подуровень) квалификации | 7 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Анализ данных измерения и контроля | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Выработка рекомендаций для увеличения процента выхода | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Формировать базы данных экспериментальных результатов измерения параметров МИС, материалов и технологических процессов | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Планировать эксперимент | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить анализ статистических данных измерения и контроля | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Устанавливает связь отклонения параметров МИС СВЧ с отклонениями параметров материалов и параметров операций технологического процесса | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Оптимизировать схемотехнически решения, топологию и технологический процесс | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые знания | Формирование и управление базами данных экспериментальных результатов измерения параметров МИС, материалов и технологических процессов | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория планирования эксперимента | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Многофакторный анализ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Статистический анализ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методы оптимизации схемотехнических решений, топологии и технологического процесса | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Ответственность за увеличение процента выхода годных путем оптимизации конструкции и технологии МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3.2.4. Трудовая функция | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Руководство опытно-конструкторской работой (ОКР) | Код | В/04.7 | Уровень (подуровень) квалификации | 7 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Происхождение трудовой функции | Оригинал | Х | Заимствовано из оригинала | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Код оригинала | Регистрационный номер профессионального стандарта | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Трудовые действия | Подготовка предложений по новым разработкам наногетероструктурных МИС СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разработка технического задания на опытно-конструкторскую работу (ОКР) по созданию МИС СВЧ совместно с инженерами-технологами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проведение переговоров с представителями заказчиков и с технологическими службами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Руководство коллективом, выполняющим ОКР по созданию новых МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые умения | Анализировать мировой уровень и тенденции развития наногетероструктурной электроники СВЧ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Составлять обзоры по отечественным и иностранным источникам информации | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать технические задания на проведение опытно-конструкторских работ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Разрабатывать технико-экономические обоснования научно-исследовательских работ и ОКР | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Прогнозировать оценки достижимых параметров элементной базы наногетероструктурной электроники СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Создавать и руководить проектной командой | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Проводить производственные совещания | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Принимать согласованные решения | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Владеть методологией системы менеджмента качества | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Необходимые знания | Системный анализ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Технический английский язык | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Технико-экономические и прогнозные исследования в отрасли | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория и практика управления сложными инновационными проектами | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Теория и практика принятия оптимальных решений | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативная документация и методики разработки технических требований на изделия СВЧ и МИС СВЧ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативная документация и методики разработки технико-экономических обоснований | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Процессный метод системы менеджмента качества | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Другие характеристики | Деятельность, направленная на выполнение ОКР и решение задач управления коллективом, осуществляющим инновационную разработку | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
IV. Сведения об организациях - разработчикахпрофессионального стандарта | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
4.1. Ответственная организация-разработчик | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Фонд инфраструктурных и образовательных программ (РОСНАНО) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Генеральный директор Свинаренко Андрей Геннадьевич | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
4.2. Наименования организаций-разработчиков | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Автономная некоммерческая организация «Национальное агентство развития квалификаций», город Москва | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
ЗАО «Научно-производственная фирма «Микран», город Томск | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
ОАО НИИ Полупроводниковых приборов, город Томск | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
ООО НПФ «Сенсерия» и ООО «РИД», город Томск | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
ООО «НПФ «Сибтроника», город Томск | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники» (ТУСУР), город Томск |